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梅特勒 分析天平 MX205DU/A
至打印机或电脑,实现完整无误的文档记录。创新的设计巧妙的设计可提供符合人体工程学的称重体验,而创新的质量保证功能则可确保准确的结果。规格 - 分析天平 MX205DU/A最大秤量82 g/220 g
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梅特勒托利多 分析天平 MX105/A
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MF10 精细研磨机,主机,需配置刀头 MF 10
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MF 10.2 冲击研磨头IKA MF 10.2 Impact grinding head冲击研磨头艾卡 参数
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Orbitrap Exploris MX 质量检测器
欢迎使用 Thermo Scientific™ Orbitrap Exploris™ MX 质量检测器,该产品非常适合希望部署常规质量监测的生物制药实验室。除了 Thermo Scientific
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研磨机IKA MF 10 basic Microfine grinder drive精细艾卡 IKA MF 10 basic Microfine grinder drive精细参数
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塞默飞Orbitrap Exploris™ MX 质量检测器
Thermo Scientific™Orbitrap Exploris™ MX 质量检测器货号: BRE725536使用适合于用途的 Thermo Scientific™ Orbitrap
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瑞士梅特勒托利多XP/XS系列微量/超微量天平
匹敌的52,000,000位。明亮的触摸显示屏、智能化用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量
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岛津天平 分析天平AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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天平瑞士XP/XS系列微量/超微量天平梅特勒托利多 可检测天平
防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg 功能和特点
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